▓澳门彩票官网▓赔率最高,提款速度最快。澳门彩票专注彩票经营10余年,信誉口碑业界驰名;在我们澳门彩票聊天室玩家每天可领取现金红包!我们[澳门彩票]将给您提供一个安全/稳定/秒速的彩票平台!...

  • ?

    德國斯派克中國區官方代理

    您當前的位置 :首頁 > 新聞中心 >  技術文章

       技術文章

    AFM-IR納米級紅外光譜技術性能特點應用

    發布時間: 2019/07/19   瀏覽次數:45    作者:華普通用

    AFM-IR納米級紅外技術主要依賴于樣品的吸收系數ks,與針尖和樣品的其他光學性質基本無光,因此該技術尤其適合具有較高熱膨脹系數的軟物質材料,例如高分子聚合物、復合材料、蛋白和細胞、纖維、多層膜結構、藥物、鋰電池等的納米尺度的化學成分鑒定,組分分布及相分離結構,表界面化學分析和失效研究等方面。s-SNOM技術,其應用受到樣品限制,只有對紅外光有較強散射的樣品才能得到信號,而且散射信號復雜,必須有模型進行修正,得到的紅外光譜的波數也有漂移,使得結果的理解不夠直接。但SNOM技術特別適用于硬質材料,特別是具有高反射率、高介電常數或強光學共振的材料。

    AFM-IR納米級紅外技術除了與紅外光譜聯用以外,還可與其他光譜相結合,例如AFM-IR納米級紅外技術與拉曼光譜儀聯用的針尖增強拉曼散射(Tip-enhanced RamanScattering,TERS)光譜技術,目前最佳的光學空間分辨率可達0.5 nm,AFM與太赫茲光譜技術聯用的散射式的近場太赫茲(Scattering-type Scanning Near-field THz Spectroscopy,S-SNTS)光譜技術,目前最佳光學空間分辨率為40nm。TERS、Nano-IRS-SNTS三種技術的基本原理類似,都是依賴于探測在金屬化探針針尖尖端形成的、與針尖曲率半徑大小相當的納米級增強光源與待測分子之間的相互作用,來獲得納米級的光學空間分辨率。

    F Huth等人將Nano-IR 應用到對納米尺度樣品污染物的化學鑒定上,圖4中顯示的Si表面覆蓋PMMA薄膜的橫截面AFM成像圖,其中AFM-IR納米級紅外技術相位圖顯示在Si片和PMMA薄膜的界面存在一個100nm尺寸的污染物,使用Nano-FTIR在污染物中心獲得的紅外光譜清晰的揭示出了污染物的化學成分,與標準FTIR數據庫中譜線進行比對,可以確定污染物為PDMS顆粒。


    暫無文件下載

    分享到:
    ?



    澳门彩票 澳门彩票网址导航 澳门彩票手机版 澳门彩票最新网址 澳门彩票平台注册 澳门彩票官网入口 澳门彩票注册链接 澳门彩票手机app 澳门彩票网址导航 澳门彩票平台官网 澳门彩票平台注册 澳门彩票网址导航 澳门彩票手机版 澳门彩票最新网址 澳门彩票平台注册 澳门彩票官网入口