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    SPECTRO-XEPOS介紹(二)

    發布時間: 2016/06/05   瀏覽次數:704    作者:華普通用

    分析速度快:
      部分用戶更加關注分析速度而非進度,SPECTRO-XEPOS X線熒光光譜儀可以滿足這類要求,幫助操作人員大幅縮減測量時間,而獲得的進度水平卻不屬于傳統的ED-XRF光譜儀。該系統分析速度快,只需要數分鐘即可完成大部分楊平的分析工作。
      超預期的經濟性:
      該儀器通過多種策略降低用戶長期持有使用成本,比如在分析液體和粉末的輕元素時,進行低速氦氣吹掃而對固體樣品測試則采用的真空系統。最重要的是各項新功能確保其性能可同更昂貴的WD-XRF技術相媲美。因此,SPECTRO-XEPOS X射線熒光光譜儀用戶以ED系列的價格獲得了WD系列的性能!憑借自適應激發等先進技術,我們推出了數款預置機型,最大程度滿足購買者的特定分析需求。用戶可以根據測量速度、最終精確度或特定基體的分析目標元素來自由選擇。
      無與倫比的精確:
      與大多數的ED-XRF分析儀不同,SPECTRO XEPOS的X射線管在測量期間始終處于開啟狀態,從而避免開/關時參數變化對讀數的影響,并確保良好的長期穩定性,有助于充分發揮儀器的超高靈敏度,提升元素分析精度-比以往提高3倍。另一個優點是可以顯著提高從痕量元素到主量成分所有濃度區間的分析準確性。
      更低的檢測限:

      SPECTRO-XEPOS X射線熒光光譜儀組合先進組件來打造頂尖性能。它采用新型高計數率探測器和高性能射線管設計來實施專屬的自使用激發計數,優化分析性能,進而提升靈敏度,減輕背景干擾,大幅降低元素的檢測限。

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